同惠TH2851-130阻抗分析儀介電常
一、測(cè)試目的通過(guò)測(cè)試不同頻率下絲素蛋白膜、PDMS薄膜及絲素蛋白+PDMS復(fù)合膜的介電常數(shù),分析材料電學(xué)特性,確保材料適配目標(biāo)器件的電學(xué)工作機(jī)制,保障器件性能穩(wěn)
Keithley靜電計(jì)6514多通道電荷
我們已有6514靜電計(jì)的情況下,想要測(cè)試多臺(tái)電荷傳感器時(shí),往往一臺(tái)靜電計(jì)無(wú)法滿(mǎn)足多路同步測(cè)試的需求,同時(shí)采購(gòu)多臺(tái)靜電計(jì)成本又會(huì)很高,這個(gè)時(shí)候我們就可以考慮使用矩陣開(kāi)關(guān)、多路采集卡、程控軟件來(lái)配套使用來(lái)...
TH2690碳化硅材料高阻值測(cè)試報(bào)告
本次測(cè)試旨在對(duì)碳化硅材料進(jìn)行高阻值及漏電流性能評(píng)估,測(cè)試儀器采用TH2690高阻計(jì),測(cè)試環(huán)境為圖靈實(shí)驗(yàn)室,測(cè)試時(shí)環(huán)境溫度為25.5C,相對(duì)濕度為60%,環(huán)境條件
EMI原理及測(cè)試
一、EMI測(cè)試原理首先提一個(gè)問(wèn)題,什么是EMI測(cè)試?很多人會(huì)問(wèn)道,為什么要對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行EMI測(cè)試,這就涉及到了這篇文章的重點(diǎn):EMI的原理及測(cè)試方法。EMI(















































































































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